首页 > 企业博客首页 > 产品展示 > 电子/电工/ 照明 > 半导体器件

分立器件质量一致性检验

  • 发布时间:2023-12-1
  • 详细信息

    分立器件质量一致性检验

     

          质量一致性检验是对电子元器件产品生产质量的一种检验方式,协助生产企业为了确保产品质量在不同批次的生产过程中保持稳定而进行的质量控制方式。

          定期进行质量一致性检验,不仅可以随时判断生产产品批质量是否符合规定的要求,而且可以及时管控生产过程质量的稳定性。它可以客观全面地反映产品在生产过程及各种使用环境下的质量状况,从而达到两个目的:在生产过程中控制产品质量;在规定的周期内,保证产品质量维持在一定的(民品要求符合产品设计要求,军品要求满足鉴定批准)质量水平。

    适用范围及参考标准:

          电子元器件批量生产阶段产品,出于质量管控的目的均可委托进行检验。参考标准涉及:GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范、GJB 128A半导体分立器件试验方法。

    质量一致性检验主要包括逐批检验和周期检验两种形式

    A组:逐批检验;
    B组:逐批检验;
    C组:每三个月,监控芯片老化一致性;
    D组:每六个月,监控封装/外壳一致性;

    一、逐批检验

           逐批检验是对每个提交的检验批的产品批质量,通过全检或抽检,判断其生产批是否符合规定要求而进行的一种检验,标准中主要包括A组、B组。

    1.检验批的构成通常由同型号、同等级、同种类、同尺寸、同结构且生产时间和生产条件大体相同的产品组成。(不一定等于生产批、购置批或者为其他目的而组成的批)

    2.检验方法一般按照具体元器件产品的详细规范、分规范、总规范、基础规范及相关标准中规定的检查方法进行检验。

    3.A组检验是为证实产品是否符合规范要求而对全部产品所进行的非破坏性试验。主要用来检查那些*易受生产工艺或生产技能变化影响的特性,以及对于达到预定要求至关重要的性能,检验项目包括表面检查(重量、尺寸)、零件和材料(标志、颜色、安全、工艺)、预先性能、性能特性、运输试验等内容。经过A组检验的样品可作为产品交付。

    4.B组检验一般是比A组检验更复杂或需要更多试验时间的一种非破坏抽样检验,样品应在经过A组检验的合格批中随机抽取,主要用来检查那些受零部件和设备质量影响较大,而受生产工艺或生产技能影响较小的特性,以及那些要求特殊工装或特殊环境的性能,检验项目包括太阳辐射、电磁兼容性、稳态电压和频率、电源中断、功率和功率因素、绝缘电阻、介质耐压、外壳、磁性材料、焊接和热设计等内容。所需的受试样品数量比A组少,经过试验的样品稍加整修或不加整修即可作为产品交付。

    二、周期检验

           周期检验是在规定的周期内,从逐批检验合格的某个批或若干批中抽取样本,并施加各种应力的各项试验,然后检测产品判定其是否符合规定要求的一种检验。标准中主要包括C组环境试验、D组耐久性寿命试验。

    1.检验批的构成样品应根据产品标准中规定的抽样方案和检查水平及规定的样品数,从本周期内经逐批检验合格的一个批或几个批中随机抽取,加倍或二次试验的样品在抽样时一次取足。

    2.检验方法主要包括:

    • 常温性能检查,试验前在正常工作的条件下,对被试样品进行定性和定量检查,判断产品质量是否全面符合产品技术标准和国家标准要求,或符合订货合同的规定。由于电子产品种类多、用途广,表征产品特性的技术参数很多,常温性能检测时,应严格按照技术标准规定进行全部指标或部分指标检测,检测合格的产品方可进行周期检验项目中的其他项目检验。
    • 环境试验:为了评价在规定周期生产批的产品的环境适应能力,将经过性能检测合格的产品,在人工模拟的环境条件下试验,以此评价产品在实际使用、运输、贮存环境条件下的性能是否满足产品定型鉴定检验时达到的环境适应能力。环境试验还包括高温负荷贮存试验、低温负荷贮存试验、高低温变化试验、交变湿热和恒定湿热试验、低气压试验、振动试验、冲击碰撞、跌落、加速度试验、盐雾试验等。由于电子产品使用环境不一样,在周期环境试验中,规定的环境试验项目可能是单项试验,也可能是组合或综合试验。
    • C组检验一般是周期性的破坏性试验,用来定期检查那些与产品设计及材料有关的特性,检验项目包括:高低温工作及贮存、湿热、冲击、颠震、震动、倾斜和摇摆、加速寿命、设备结构噪声、包装试验等内容。C组检验通常要求模拟工作环境,所需的受试样品的数量比B组检验少,而且与生产量或生产周期有关。除非另有规定,经过C组检验的样品,承制方将发现的或潜在的损伤修复后,再经过A组和B组检验合格后,可以按合同和订单交付。
    • C组检验适用范围包括:① 孤立批产品的每一个提交批;② 产品正常连续批生产时,每年进行一次;③ 对产品进行较大设计、工艺、材料、元器件更改后的提交批;④ 产品长期停产后,恢复生产时。C组检验的样品应在经过B组检验的合格批中随机抽取。

           广电计量检测集团股份有限公司(GRGT)-集成电路检测与分析事业部,长期致力于电子元器件及电子装备可靠性检测、失效分析、质量认证与验证、 工艺评价与过程监控,为客户提供专业的质量评价与可靠性提升技术解决方案。*总部位于广州、分别 在上海、成都和东莞设立专业分实验*。*总体实验设备400余台套,*技术人员 165人,其中博士8人,硕士18人、本科以上学历68%。 实验室拥有CNAS认可400余项,认可覆盖GJB7243、GJB548、GJB360、GJB4027等 军工电子元器件筛选,失效分析和DPA常见的测试项目,通过GJB9001B军工质量管理体系认证,具备装备承制单位二级保密资格。

    • 装备科研生产单位二级保密资质
    • 通过GJB9001C质量管理体系认证
    • 装备承制单位资格(试验类)
    • 军工校准和测试实验室(GJB 2725)认可
    • 中国合格评定国家认可委员会认定的国家实验室 (CNAS)认证
    • 科工局认定的国防实验室(DILAC)认证
    • 中航601所电子元器件筛选认可实验室
    • ZF试验鉴定局指定伪空包鉴别实验室
    • 航天一院合格供方
    • 中国工程物理研究院合格供方

     

    浏览更多类似信息

    公开留言

    我要留言

    您需要先登录,才能留言!


    特别提醒: 以上信息由企业自行提供,内容的真实性、准确性和合法性由发布企业负责,请谨慎采用,风险自负。双方在交易时应主动核实对方身份。如发现虚假信息,请及时报告给我们。

    请填写回应内容:

    推荐给好友

    (多个请用符号","隔开)。