二维增量式平面光栅尺

二维增量式平面光栅尺

简介：

1、二维线性测量光栅尺
2、光栅周期20 µm，玻璃盘
3、测量范围可达105 x 89 mm（更大可以定制）
4、测量角度范围最大可达 ±10’
5、细分最大为×100，细分电路在15pin Sub-D接头内
6、读头尺寸精巧
7、多种安装方式
8、高分辨率、高精度
9、高细分精度，信号可自动调整
10、每个测量方向一个原点信号

技术参数：

机械参数：

1、读头重量：17g （不含线）
2、可选分辨率：0.05µm、0.1µm、0.2µm、0.5µm、1µm、5µm
3、速度参数：
       无细分电路－－max. 600 m/min --->10 m/s
       细分数x50－－max. 96   m/min --->1.6 m/s
4、测量范围：
       长度－－105 x 89 mm（更大可以定制）
       角度－－±10’
5、测量标准：
       材质－－玻璃，厚度1.1mm
       栅距－－20 µm
       参考信号位置－－测量行程的起点处
6、线性膨胀系数：8.5x10^-6K^-1
7、精度等级：± 5 µm

电子参数：

1、扫描频率：max. 500 kHz
2、输出信号：
       电压输出－－1 V_PP
       方波输出－－RS 422（无细分）、RS 422 （×100 细分）
3、电源：5V ± 10%
4、电流损耗：
       电压输出－－80mA 每相
       方波输出－－200mA 每相
5、线长：
       固定线长－－最长3m
       总长－－最大100m（延长线）

使用环境：

1、使用温度：0°C .. +55 °C
2、储存温度：-20°C .. +70 °C
3、湿度：93% RH (无冷凝）

光栅读头尺寸图：

光栅盘尺寸图：

安装方式：